威盛高效能錯誤偵測與多階ecc解碼引擎技術的SSD控制器亮相美國2016 Flash Memory峰會

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TLC NAND Flash設備提供最佳錯誤偵測能力並具有提供三倍供貨保障

2016年8月10日臺北訊—威盛電子今日宣佈在2016 Flash Memory峰會的818號展位上展示最新威盛產品—NVMe PCIe Gen III和SATA III SSD控制器。此次峰會召開時間為8月9日到11日,地點是在美國加州聖克拉拉的會議中心。

第二代威盛SSD控制器提供最好錯誤偵測技術,威盛 LDPC PLUS 多階ECC解碼引擎技術是其特色,它能確保其高通量性並杜絕過熱的問題。

“威盛錯誤偵測與多階ecc解碼引擎技術利用我們獨特的雙重硬體解碼架構,讓資料的完整性和壽命最大化。”威盛電子全球行銷副總Richard Brown評價道:“我們的第二代威盛SSD控制器是對於需要高成本效益和高SSD性能運算設備的最佳選擇。”

如果您會參加今年的2016 Flash Memory,一定要報名參加威盛帶來的以下演講:

High-Throughput LDPC Solution for Reliable and High Performance SSD
Forum E-21, Wednesday, August 10th, 8:30-10:50am

SSD Flash Management for 3D NAND Flash Memory
Forum M022, Wednesday, August 10th, 3:50-6:15pm

High Performance FTL Architecture for PCIe/NVMe SSDs
Session 302-D, Thursday, August 11th. 9:45-10-50am

欲瞭解更多關於威盛SSD控制器的詳細資訊,請訪問: http://www.viatech.com/tw/silicon-tw/ssd-controllers/

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