安全性の向上

安全性の向上

作業員の強い照明や化学物質への暴露を低減します。

効率の向上

効率の向上

人的エラーを排除することで、ウェーハ欠陥検出精度を向上させます。

コストの削減

コストの削減

生産品質を向上させながら、人件費や検査費用を削減します。

.

概要

高精度な目視検査ソリューションにより、欠陥のあるウェーハの検出を迅速化することができます。

産業用カメラで撮影されたウェーハ画像を分析し、欠陥を特定する最適化されたAIモデルを搭載するこの最先端のソリューションは、あらゆるサイズのウェーハでの使用に適しています。不注意、疲労、判断力の低下に起因する人的エラーを排除することで、わずかな欠陥でも非常に正確に特定でき、ほぼ100%の再現率、および5%未満の誤検出率を実現します。

検査プロセスを自動化するこのソリューションにより、シリコンウェーハメーカーと組立工場は、工場効率とオペレーターの安全性を大幅に向上させることができます。また、強力なエッジAI処理機能と、ERPネットワークや企業クラウドへのシームレスな接続を搭載したこのソリューションは、企業が運用効率と安全性をさらに高めるために利用できる、豊富なデータ分析およびインサイトを提供します。

機能

ウェーハ欠陥検査ソリューションは、迅速かつ簡単に展開でき、複数の生産ラインで拡張することができます。このソリューションは以下の主要コンポーネントで構成されており、特定の使用要件を満たすようにカスタマイズすることができます。

AI推論およびトレーニングサーバー

ウェーハ欠陥検出専用AIモデル

USB 産業用カメラ

使用例

industrial wafer inspection solution use case

ウェーハ欠陥検査ソリューションにより、世界をリードする半導体企業のうちの1社が欠陥検出プロセスを迅速化させ、人件費を削減し、より安全かつ清潔な環境を実現しています。

お問い合わせ

最新鋭のVIAウェーハ欠陥検査ソリューションでウェーハの生産品質を最大限に向上させましょう。精密な検査機能により欠陥を最小限に抑え、製造効率を最適化します。詳細情報はお問い合わせください!

お問い合わせ

VIA Technologies, Inc.
VIA Technologies, Inc.